商品详情
产品简介
WKL-702颗粒图像分析仪将传统的显微测量方法与现代图像技术相结合,是一种采用图像法进行颗粒形貌分析和力度测量的颗粒分析系统,由光学显微镜,数字CCD摄像机和粉尘分散度分析软件组成。该系统通过专用的数字摄像机将显微镜的粉尘图像拍摄下来传输给电脑,通过专用的粉尘分散度处理分析软件对图像进行处理分析,具有直观、形象、准确和测试范围宽等特点。可以观察颗粒形象,也可以得到粒度分布等分析结果。
产品特点
● 适用于磨料、涂料、非金属矿、化学试剂、粉尘、填料等各种粉末颗粒的粒度测量、形貌观察和分析。
软件功能及报告输出格式
● 可以对图像进行多项处理:如:影像增强、图像叠加、局部提取、定向放大、对比度、亮度调节等几十种功能。
● 具有圆度、曲线、周长、面积、直径等几十种几何参数的基本测量。
● 可直接按颗粒粒径的粒径面积、形状等多类参数,以线性或非线性统计方式绘出分布图
配置参数(配置一国产显微镜)(配置二进口显微镜)
● 三目生物显微镜:平场目镜:10X、16X
● 消色差物镜:4X、10X、40X、100X(油)
● 总放大倍数:40X—1600X
● 摄像机:300万像素数字CCD(标准C接口镜头)
产品图片
所有商品图片均由厂家提供;请以收到的实物为准!
规格参数
产品型号WKL-702 颗粒图像分析仪测量范围1~3000微米最大光学放大倍数1600倍最大分辨率0.1微米/像素准确性误差< ±3%(国家标准物质)重复性偏差< ±3%(国家标准物质)数据输出周长分布、面积分布、长泾分布、短径分布、周长相当径分布、面积相当径分布、feret径分布、长短径比、中间(D50)、有效粒径(D10)、限定粒径(D60、D30、D97)、个数长度平均径、个数面积平均径、个数体积平均径、长度面积平均径、长度体积平均径、面积体积平均径、不平均系数、曲率系数。售后保障
l 产品质量问题,在产品售出7天内提出异议并且产品未有损坏的,中美仪器商城负责无条件免费退换货;
l 本产品全国联保,质保期:1年质保(耗材不在保修范围内);
l 质保期内如有产品质量问题,免费维修(使用不当除外);质保期外长期提供技术支持,不收维修费,只酌情收取基本配件费及相关费用;
l 所有产品售后问题,请直接联系我司,我司售后服务团队会在30分钟内响应处理。
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